<<
>>

Интерференционная микроскопия

В этом разделе будет рассмотрен упрощённый вариант интерференционного микроскопа — дифференциальный интерференционный контраст (DIC) по Номарскому.

Имеются вариации в изготовлении DIC, но все работают в поляризованном свете.

Под конденсором микроскопа, в плоскости апертурной диафрагмы, находятся призма Волластона и поляризатор, в задней фокальной плоскости объектива — призма Волластона и анализатор. Луч плоскополяризованного света расщепляется призмой Волластона на два луча, проходящие через структуры объекта очень близко друг к другу. Вторая призма Волластона соединяет эти лучи, которые интерферируют, создавая в плоскости изображения объёмное цветное изображение. Поляризатор и анализатор должны находиться в скрещенном положении. Действие указанных элементов заключается в получении оптимальных цветов изображения, что даёт наилучший трёхмерный и цветовой эффекты.

Некоторые производители ограничиваются одним комплектом призм Волластона для всех объективов; остальные используют индивидуальные комплекты для каждого объектива, но в данном случае это не является необходимостью.

DIC имеет преимущество перед фазовым контрастом, так как при его использовании нет ореолов, которые затемняют края. Благодаря изменению угла раздвоения света в конденсоре возможны тёмные и светлые трехмерные изображения. Для того чтобы быть уверенным в достоверности интерпретации полученного изображения, необходимо иметь возможность вращения препарата и смены светлого изображения на тёмное.

DIC не может быть установлен в каждый микроскоп. В обязательном порядке в микроскопе должны быть установлены поляризатор, анализатор и поляризационные призмы. Но если есть желание, то можете приобрести такой микроскоп, когда он будет продаваться.

Между тем вариация под названием «модуляционный контраст по Хоффману» может быть добавлена в любой светлопольный микроскоп проходящего света. Для получения такого контраста в зрачок микрообъектива помещается пластинка,

подобная части проэкспонированной и проявленной фотоплёнки и имеющая 3 участка — чёрный, серый и прозрачный, но поляризованный (см. рис. 12а).

Под конденсором находится другая пластинка (см. рис. 12б), которая может быть центрирована. При использовании фазового телескопа прозрачная часть этой пластинки накладывается на серый участок первой пластинки, при этом поляризационные участки обеих пластин накладываются друг на друга. Весь свет проходит через две щели; благодаря такому наклонному освещению рельеф препарата приобретает тёмные и светлые области, такие же как и при использовании DIC. Регулировка освещённости и контраста, необходимых для получения оптимального объёмного изображения, достигается за счёт поворота поляризатора, находящегося в осветительной системе.

Иногда при работе с помощью DIC и модуляционного контраста по Хоффману мы наблюдаем смещение изображения. Безусловно, смещение изображения в сторону — это плохая весть для того, кто работает с микроскопом. Однако в данном режиме оно необходимо, иначе эти методики не могут функционировать.


Рис. 12. Схема устройства для обеспечения модуляционного контраста по Хоффману

Металлографический микроскоп представляет собой светлопольный микроскоп падающего (отражённого) света для исследования полированных образцов без применения покровных стёкол. Благодаря специфике объектов, подлежащих наблюдению на приборе, большинство микроскопов почти всех фирм выполняется по типу инвертированного микроскопа, у которого объектив расположен под предметным столиком. Однако имеются также микроскопы прямого типа, у которых объектив расположен над столиком.

У инвертированного металлографического микроскопа на подвижном предметном столике перемещаются объекты, установленные в сменных вкладышах для образцов разного диаметра. Исследуется нижняя поверхность образца, предварительно шлифованного или полированного. С помощью монтажного пресса изготавливаются образцы из металла в различных средах (бакелит, прозрачная пластмасса и т. д.) размерами 1; 1,25 и 1,5м или 25, 30 и 40 мм.

Инвертированный микроскоп чаще оборудуется скользящим, а не механическим предметным столиком. Он поистине уникален. Перемещая столик одной рукой, вы обнаруживаете, что вам приходится прилагать для этого усилия. Но если вы смотрите через окуляры на образец, движение с помощью обеих рук оказывается плавным, легко контролируемым и достаточно медленным, чтобы оно не вызвало утомления.

Тёмное поле реализуется с помощью специальных объективов, использующих тёмнопольное кольцо на пути распространения света и эпизеркало, направляющее свет на образец. Отражённые от образца лучи с помощью внутренней части объектива и окуляров создают его изображение. Аналогичная часть объектива используется при работе со светлым полем. Такие микроскопы могут быть укомплектованы DIC, выполненным с использованием поляризации и компенсатора.

Никто не поспорит с тем, насколько трудно поместить образец в инвертированный микроскоп. Держать его в своей руке, смотреть на него снизу и пытаться поместить его в луч света — это и в самом деле непросто. Напротив, прямой микроскоп позволяет сфокусировать луч на выбранном месте, затем поместить образец в фокус. Металлографический микроскоп прямого типа должен

обеспечивать перемещение и наблюдение объектов размером от 2 или 3 мм до 40 или 50 мм (от 1/8 до 2 дюймов); поэтому передвигаемый предметный столик должен поэтому выдерживать соответствующий вес.

Инвертированный металлографический микроскоп с его фиксированным предметным столиком нуждается только в сменных вкладышах для помещаемых на этот столик образцов различного диаметра, и если потребуется, то на него может быть помещён даже кусок металла.

Для инвертированного микроскопа достаточно, чтобы только одна сторона образца была шлифованной и отполированной. Таким образом, пользователь может исследовать поверхность, находящуюся в течение всего времени в фокусе. При использовании прямого микроскопа необходимо, чтобы обе стороны были отполированы и параллельны друг другу. Следует вдавить образец в пластилин на металлической пластине размером 1x3 дюйма, — таким образом делая верхнюю поверхность образца, находящуюся в фокусе во время сканирования, параллельной нижней поверхности.

Несколько слов о науке металлографии. Трещина в куске металла вызывает деформацию в металле глубиной иногда до 1/8" и более. Сперва поверхность стачивается, дабы сделать её более гладкой, затем шлифуется шлифовальной бумагой в проточной воде, полируется алмазной пастой до полного исчезновения деформации — и вы можете смотреть на металл, чистый и без деформаций. Проблема, однако, заключается в том, что каждое действие устраняя определённую часть деформации, само деформирует металл. При полировке алмазной пастой с размером зерна 0,25 микрона или алюминиевым порошком с размером зерна 0,05 микрона возможные царапины на образце настолько незначительны, что образец имеет почти зеркальную полировку. Теперь металловед может посмотреть, какие следы деформации остались.

<< | >>
Источник: Ф. М. Кэррил, С. А. Бабушкин. Как работать со световым микроскопом / Ф. М. Кэррил; (перевод с английского и под редакцией И. Я. Барского, М. М. Аптинова), С. А. Бабушкин. - Москва.: Вест Медика,2010.— 112 с.. 2010
Помощь с написанием учебных работ

Еще по теме Интерференционная микроскопия:

  1. Ф. М. Кэррил, С. А. Бабушкин. Как работать со световым микроскопом / Ф. М. Кэррил; (перевод с английского и под редакцией И. Я. Барского, М. М. Аптинова), С. А. Бабушкин. - Москва.: Вест Медика,2010.— 112 с., 2010
  2. БЛАСТ0ЦИТ03
  3. Возбудитель туберкулеза и его свойства.
  4. СТР0НГИЛ0ИД03
  5. Нейрофизиологическая диагностика
  6. ЗАДАЧИ КОЛЬПОСКОПИИ
  7. Мази
  8. Диагноз и дифференциальный диагноз
  9. План обследования больного при ВДА
  10. ПРИЧИНЫ ИНФЕКЦИОННОГО ЗАБОЛЕВАНИЯ
  11. Другие представления о механизмах действия потенцированного вещества